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Das CAD-Labor ist mit leistungsfähigen Linux-Workstations ausgestattet.

Eingesetzt werden sowohl das Design Framework II der Firma Cadence als auch das Advanced Design System der Firma Agilent.

 

Für die On-Wafer Charakterisierung bis 110 GHz steht ein Waferprober RF-1 der Firma Cascade bereit.

 

 

Ein 50 GHz Generator HP 83650 L sowie die Vervielfachermodule HP 83557 A und HP 83558 A von Agilent erlauben die Erzeugung von Sinussignalen mit Frequenzen bis 110 GHz.

 

 

Das Sampling-Oszilloskop DCA 86100 A ebenfalls von Agilent kann zur Charakterisierung von 4 Signalen bis zu 50 GHz eingesetzt werden.

 

Signale im Frequenzbereich bis zu 200 MHz können mit Hilfe des Echtzeitoszilloskops DSO 3202 A ebenfalls von Agilent analysiert werden.

 

Zur Erzeugung von programmierbaren oder pseudozufälligen Bit­mustern mit Datenraten bis zu 43.5 Gbit/s dient ein System der Firma Anritsu. Es besteht aus

        

dem 12.5 Gbit/s 4-Kanal Generator MP 1758 A und dem 43.5 Gbit/s 4:1 Multiplexer MP 1801 A.

 

Fehlerratenmessungen bis 12.5 Gbit/s ermöglicht der

Error Detector MP 1764 C der Firma Anritsu.

 

 

 

 

Für die Frequenzbereichsanalyse im Bereich bis zu 40 GHz werden der

vektorielle Netzwerkanalysator 37369D und der Spektrumanalysator MS 2668 C

der Firma Anritsu eingesetzt.